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高低溫沖擊試驗箱用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業，國防工業、航天、兵工業、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化，測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產品于熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害，可確認產品的品質，從精密的IC到重機械的組件，都會用到，是各領域對產品測試的 一項測試箱。
高低溫沖擊試驗箱分為高溫箱，低溫箱，測試箱三部分，采 之斷熱結構及蓄熱蓄冷效果，試驗時待測物*靜止，應用冷熱風路切換方式將冷，熱溫度導入測試區實現冷熱沖擊測試目的。產品外形美觀、結構合理、工藝先進、選材考究，具有簡單便利的操作性能和可靠的設備性能。采用采用 先 進的計測裝置, 控制器采用大型彩色液晶人機觸控對話式LCD人機接口控制器,操作簡單，學習容易，穩定可靠。中,英文顯示完整的系統操作狀況、執行及設定程序曲線。具96個試驗規范獨立設定，沖擊時間999h59min。 可獨立設定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執行冷熱沖擊條件時，可選擇二槽式或三槽式及冷沖、熱沖進行沖擊之功能，具備高低溫試驗機的功能。具備全自動，高精密系統回路、任一機件動作，*有P.L.C鎖定處理，全部采用P.I.D自動演算控制,溫度控制精度高。
高低溫沖擊試驗箱可設定循環次數及除霜次數自動(手動)除霜。出風口于回風口感知器檢測控制，風門機構切換時間為10s內完成，冷熱沖擊溫度恢復時間為5分鐘內完成。每個產品都根據客戶的要求訂做，保證了設備的高效節能，并在現場調試和驗收，保證用戶方的使用性能。運轉中狀態顯示及曲線顯示,發生異常狀況時，螢幕上即刻自動顯示故障點及原因和提供排除故障的方法，并于發現輸入電力不穩定時，具有緊急停機裝置 。
一、試驗目的
確定設備(產品)在周圍大氣溫度急劇變化時的適應性。
二、試驗條件
1、試驗溫度：高溫為70℃;低溫為-55℃。 2、試驗溫度保持時間：1h或者直至試驗樣品達到溫度穩定，以時間長者為準。 3、轉換時間：＜5min。 4、循環次數：3次。
三、對試驗箱(室)的要求
本標準應用冷熱沖擊試驗箱(室)或采用高溫試驗箱(室)和低溫試驗箱(室)進行冷熱沖擊試驗，以提供試驗樣品經受周圍空氣溫度急劇發生變化的環境溫度。
1、高溫試驗箱(室)的要求，應符合GJB150.3-86《 設備環境試驗方法高溫試驗》的第3章各條所規定的要求。
2、低溫試驗箱(室)的要求，應符合GJB150.4-86《 設備環境試驗方法低溫試驗》的第3章各條所規定的要求。
3、冷熱沖擊試驗箱(室)提供高溫試驗部分和低溫試驗部分，應分別符合GJB150.3-86和GJB150.4-86的第3章各條所規定的要求。
4、試驗箱(室)的容積應保證在試驗樣品放入候補超過試驗溫度保持時間的10%就能使試驗箱(室)溫度達到GJB150.1-89中3.2條規定的試驗條件容差范圍之內。
四、恢復試驗樣品
從試驗箱(室)內取出后，應在正常的試驗大氣條件下進行恢復，直至試驗樣品達到溫度穩定。
高低溫沖擊試驗箱用途：
高低溫沖擊試驗箱適用于科研、學校、工廠等單位用于電工、電子產品、半導體、電子線路板、金屬材料、軸承等各種材料在溫度急劇變化環境下的適應性試驗。
高低溫沖擊試驗箱符合標準：
高低溫沖擊試驗箱符合GJB150.3 設備環境試驗方法-高溫試驗、GJB150.4 設備環境試驗方法-低溫試驗、GJB150.5 環境試驗方法溫度沖擊試驗、GB/T2423.1低溫試驗方法、GB/T2423.2高溫試驗方法、GB10592高低溫試驗箱技術條件等國家標準。
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