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導(dǎo)致復(fù)合鹽霧試驗(yàn)箱故障的原因
點(diǎn)擊次數(shù):476 更新時間:2022-08-03

減少復(fù)合鹽霧試驗(yàn)箱的故障就要了解這些故障產(chǎn)產(chǎn)生原因;很多電子元件隨著工作時限延長可能發(fā)生退化性的失效,而鹽霧試驗(yàn)箱的元件退化性失效所包括的范圍較廣,主要有如下幾個特征:某些參數(shù)隨著工作時間的延長或工作環(huán)境的變動,其參數(shù)發(fā)生漂移,造成時而工作正常,時而工作不正常的情況。產(chǎn)生這些故障的原因主要為:
1、由于負(fù)荷超過其內(nèi)部承受能力和使用保養(yǎng)不當(dāng)而產(chǎn)生的結(jié)果。
2、電子元件失效普遍的是存在品質(zhì)與技術(shù)缺陷。
3、環(huán)境因素作用,包括溫度、濕度、電壓及光照等。

 以上三種情況是導(dǎo)致復(fù)合鹽霧試驗(yàn)箱產(chǎn)生故障的主要原因,可以說電子元件的好壞直接關(guān)系到儀器設(shè)備的質(zhì)量優(yōu)劣。